光學(xué)測量儀的特點(diǎn)和優(yōu)勢介紹

   　隨著現(xiàn)代制造業(yè)的快速發(fā)展，光學(xué)測量儀(光學(xué)顯微測量儀和光學(xué)印模測量儀，二維和三維測量儀)的應(yīng)用和挑戰(zhàn)已成為必然。這個挑戰(zhàn)主要來自兩個方面，可測性和效率。前者是為了滿足日益增加的質(zhì)檢要求，后者是為了滿足日益增加的質(zhì)檢數(shù)量。全社會使用和選擇的價值觀直接和間接地反映在質(zhì)量控制的需要上，使得各種光學(xué)測量儀器的應(yīng)用越來越廣泛。無論是家用電器還是工業(yè)產(chǎn)品的發(fā)展，都有兩大趨勢，就是集成度越來越高，功能越來越雜亂，然后零件必然越來越小。

       光學(xué)測量儀是集光學(xué)、機(jī)械、電子、計算機(jī)圖像處理技術(shù)于一體的高精度、效率高、高可靠性的測量儀器。由光學(xué)放大系統(tǒng)對被測物體進(jìn)行放大，經(jīng)過CCD攝像系統(tǒng)采集影像特征并送入計算機(jī)后，可檢測各種復(fù)雜精密零部件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置，進(jìn)行微觀檢測與質(zhì)量控制。

       隨著幾個維度的縮小，檢測小產(chǎn)品并不容易，尤其是對于肉眼難以識別的縫隙、拐角或倒角，都需要由顯微放大的光學(xué)系統(tǒng)組成的光學(xué)壓印系統(tǒng)。光學(xué)檢測和測量的優(yōu)勢在于，即使是至小的產(chǎn)品也可以很容易地放大，然后它可以很容易地完成主動抓取裂口上的點(diǎn)，并完成判斷特征是否合格。這些在過去的時代是不可想象的。

　　全主動印象丈量儀和光學(xué)丈量顯微鏡都是利用CCD收集變焦鏡下樣品的印象，前面配合X、Y、Z軸移動平臺及主動變焦鏡，經(jīng)過印象分析原理，使用計算機(jī)處理印象信號，對科研樣品進(jìn)行精細(xì)的幾許數(shù)據(jù)丈量，并進(jìn)行數(shù)據(jù)運(yùn)算。后者可以直接對精細(xì)產(chǎn)品或產(chǎn)品的精細(xì)零件(5MM以下的幾個刻度)進(jìn)行屏幕檢測。通過光學(xué)壓痕和光學(xué)顯微測量相結(jié)合，您可以輕松掌握生產(chǎn)過程中產(chǎn)量和質(zhì)量的數(shù)量和趨勢，為您發(fā)現(xiàn)和控制質(zhì)量提供有力的支持，建立您得心應(yīng)手的質(zhì)量控制方法，成像亮度計。

        光學(xué)測量儀器(光學(xué)顯微測量儀和光學(xué)印模測量儀，二維和三維)是基于其非接觸性和基于機(jī)器視覺的人工智能。光學(xué)測量儀器的發(fā)展及其所創(chuàng)造的價值被越來越多的行業(yè)所了解和認(rèn)可，并逐漸被更多的世界知名品牌指定為其質(zhì)量保證的必要措施和手段。